更有效地在微控制器上对 C++ 进行基准测试

Question

我有兴趣在 NXP LPC 804 微控制器上对各种 ETL 和 STL 库函数的执行速度进行基准测试。 目前，我正在为每个 function 创建一个 C++ 程序，然后用示波器测量结果，另一方面，这往往会产生相当多变的结果。

我研究了各种基准测试套件，例如 Nanobench 和 Google Benchmark，但都没有奏效。 有谁知道更有效的解决方案？ 由于这更像是一个方法学探究，而不是编程问题本身，所以我没有任何代码可以附加。

如果有更合适的 Stack Exchange 频道，那么我会很乐意删除这篇文章并将其重新发布到那里。 谢谢！

编辑：添加更多细节：

• 通过“可变”结果，我的意思是当我在一个 while 循环内连续运行一个 function 时，示波器在几个不同频率之间来回闪烁的周期持续时间。 我注意到这在毫秒级比微秒级更频繁。
• 这是一个示例 function 基准测试的结构：

int main() {
    while (true) {
        // set GPIO pin
        // execute some function
        // clear GPIO pin
    }
    return 0;
}

• 由于这是一项正式的研究评估，因此建议我使用标准基准测试套件或使用示波器，而不是自己使用计时器创建基准测试功能，因为有人告诉我微控制器计时器有些不精确。

Answer 1

根据数据表，LPC804 有一个“32 位通用计数器/定时器”，也许你可以配置它来进行测量。 这样，您可以编写一次计时代码并以编程方式检查结果。