OpenCV中的自定義SIFT檢測器

Question

有沒有辦法在OpenCV中指定自定義SIFT檢測器參數？

似乎FeatureDetector構造函數沒有任何參數，而似乎可以在SIFT構造函數中指定這些參數。

我正在研究徽標檢測。 一些徽標的紋理信息非常低，因此我想在數量太少時檢測更多的關鍵點（我可以增加SIFT的edgeThreshold嗎？）。

Answer 1

可以創建一個定制的SIFT描述符提取器 ：

SIFT siftDetectorExtractor = SIFT(200, 3, 0.04, 15, 1.6);

Mat logo = imread("logoName.jpg");

vector<KeyPoint> keyPoints;
Mat sifts;
siftDetectorExtractor(logo, Mat(), keyPoints, sifts);

或使用檢測器類：

Ptr<FeatureDetector> detector = Ptr<FeatureDetector>( new SIFT( <your arguments> ) );